分光測光装置

 

 

マルチチャンネル分光測光装置

浜松ホトニクス株式会社

PMA-12 分光器と光検出器を一体化したコンパクトなマルチチャネル分光測光装置です。 測定波長や感度等の異なる豊富なモデルを取り揃えています。
PMA-20 発光、蛍光、吸収等の反応におけるスペクトル変化を 100 μs の時間分解能で高感度に計測します。
PMA-50 分光器、マルチチャネル光検出器、およびデータ解析装置から構成されるマルチチャネル分光測光装置です。 発光、吸収、反射等、用途に合わせて最適なシステム構築が可能です。
PMA-70

ゲート ICCD 分光システム

超高速時間領域の分光スペクトル解析を可能にしたシステムです。 ゲート時間、ディレイタイムの設定により、自動的に時間分解スペクトル解析が行えます。

 

 

 

 

 

発光・蛍光材料物性評価装置

浜松ホトニクス株式会社

Quantaurus-QY C11347-01

Quantaurus-QY C11347-02

絶対PL量子収率測定装置は、フォトルミネッセンス法により、発光量子収率の絶対値を瞬時に測定する装置です。

C9920-02

C9920-02G

C9920-03

C9920-03G

絶対PL量子収率装置は、フォトルミネッセンス法(PL 法)により発光材料の絶対発光量子収率(内部量子効率)を測定する装置です。
C9920-11 輝度配光特性測定装置は、有機/無機 EL や LED などの発光デバイスの発光輝度、スペクトル、およびそれらの発光角度分布をエレクトロルミネッセンス法により測定する装置です。
C9920-12 外部量子効率測定装置は、有機/無機 EL や LED などの発光デバイスを電流(電圧)励起し、発光するフォトン数を計測することで測定サンプルの外部量子効率を測定する装置です。

 

 

厚み計測装置

浜松ホトニクス株式会社

計測範囲(0.5 μm〜300 μm)
C12562-03 関連装置への組み込みを前提に設計された非接触の膜厚測定装置です。 また、最高100 Hzの高速測定も可能なため、高速ラインでの測定にも対応することができます。
計測範囲(25 μm 〜 2900 μm)

C11011-01

C11011-01W

レーザ干渉法を利用した厚み計測装置です。 光学式の非接触計測で、高速計測を実現し、生産現場でのインライン計測にも対応します。 また、オプションのマッピングシステムにより試料の厚み分布を計測することも可能です。
計測範囲(150 nm 〜 50 μm)
C10178-03 C10178-03J 分光干渉法を利用した非接触の膜厚測定装置です。 測定は、分光干渉法により短時間で高感度・高精度に膜厚を測定します。
C10323-02 分光干渉法を利用した顕微タイプの膜厚測定装置です。
計測範囲(10, 20 nm 〜 100 μm)
C13027-11 分光干渉法を利用した非接触の膜厚測定装置です。 シーケンサ接続や膜厚と色の同時計測機能に加え、装置組み込みを容易にするために、従来製品に比べ小型化を実現しました。
C11295 分光干渉法を利用した膜厚測定装置です。 リアルタイムでのマルチポイント計測を実現し、多チャンバ同時計測やフィルム面上の多点測定を可能にしました。また、膜厚と同時に反射率(透過率)・物体色や経時変化も測定することができます。